Мерой искажения кристаллической решетки служит так называемый вектор Бюргерса, который получается, если провести замкнутый контур вокруг любого произвольного участка в идеальной решетке, а затем этот же путь повторить в реальном кристалле, заключив дислокацию внутрь контура. Можно заметить, что число атомов над экстраплоскостью в выделенном контуре будет на один ряд больше, чем под ней. Величина параметра кристаллической решетки, на которую отличается количество атомов над дислокацией и под дислокацией, получила название вектора Бюргерса.
Важной характеристикой дислокаций, находящихся в реальном материале, является их плотность - суммарная длина всех линий дислокаций в единице объема. У отожженных металлов она составляет 106…108 см-2, а после холодной пластической деформации - 1011…1012 см-2. Попытка увеличить плотность дислокаций свыше 1012 см-2 приводит к появлению трещин и разрушению металла.
Особое значение дислокации имеют в микроэлектронике, где они играют роль тонких проводящих каналов, вдоль которых легко перемещаются атомы примеси. Название термина происходить от латинского слова dislocatio - смещение, перемещение.