Стереоскопическая проекция поликристаллического агрегата, показывающего распространение полюсов или плоскостных нормалей, удельных кристаллических плоскостей с использованием осей образца как осей сравнения.
Данные полюсов используются, чтобы характеризовать текстуру в поликристаллических материалах